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经检测发现主要原因：设备后端comm口后端丝被烧坏。故障二6514B不机。经拆机检测发现：输入端部分元器件被烧坏，电源模块丝被烧坏。总结数字万用表故障现象，由四点主要原因造成。如下：超量程使用，频繁出现overlode。元器件老化操作规范电能质量如何避免类似故障的产生良好接地接地良好不仅可以保证仪器和操作人员的安全，还能提高测试精度，高精度仪器的测试线缆都是具有屏蔽线的，而仪器屏蔽地就是供电地线，接地良好可以使屏蔽外界对信号传输的干扰。
探伤仪器USIP40（GE）；探伤标准按AMS2631DclassA1，标准人工伤φ1.2-9dB检测，对报处标记位置进行标识。该缺陷截面距离边部38mm（离棒材几何中心2mm）。见图。图自动探伤截图低倍解剖。发现距中心处2mm有明显亮斑点显示图低倍解剖观察距中心2mm处有明显亮斑点。图放大200倍高倍发现缺陷部位有明显亮斑在放大200倍观察，解剖报处发现亮斑痕迹，亮斑组织和正常组织有明显差异。
无刷电机凭借噪声低、寿命长、转速高、体积小、动态性能好、输出力矩大、设计简便等特点，在、工业控制、消费电子、电动工具、电动车等领域广泛应用。无刷电机的工作原理首先，看一下无刷电机驱动器的框图，如下：有上图可知，MCU通过配置寄存器输出六路PWM只是控制信号，其电压也只有5V，不能直接驱动电机，而是通过控制功率管的关来使电机运行，驱动电路一般是由多个MOSFET组成的驱动桥和电机驱动桥功率管构成。
在工程师的日常测试中，有时会发现用万用表测试的结果与许多高精度的仪器测试的结果并不一致，工程师往往会陷入迷茫，到底哪个值才是正确的？原来，选择不同的测量模式，会导致结果大相径庭，本文将对 常见的4种测量模式进行解析，大家莫要傻傻分不清。测试同样一个信号，不同的计算方式与测量模式将会得出完全不同的结果， 常用的4种测量模式包括：RMS（真有效值也称有效值或均方根值）、MEAN（校准到有效值的整流平均值也称校正平均值）、DC（简单平均值也称直流分量）、RMEAN（整流平均值也称平均值）。
在电子设备的实际测试过程中,因单台供电电源的输出电压、电流，功率等无法满足要求，工程师通常会选择将多个电源并联运行，以增加系统驱动力及测试灵活性。但普通电源并联后，存在电流输出不均衡，动态响应延迟等各种问题，这样就会引起整个系统效率低下甚至崩溃。并联均流技术是当前电力电子技术发展的一大重点,艾德克斯IT6500C系列电源，突破传统电源技术瓶颈，其内置硬件环路，确保主从模式支持并联，且主动均流，每个电源平等均分负载电流。
热电动势(也称为热偏移)的这一参数指标的重要性在许多电阻模块可能常常被忽略。这里我们带大家认识一下热电动势以及其重要意义。热电动势可以在任何有不同金属或者不同温度的地方产生。这个包括但不局限于继电器。在有源模块中，冷却系统会导致PCB有一个温度剖面，因此产生的热电动势是不可避免的。强制性空气冷却液容易造成继电器顶部和底部（PCB旁）之间的温差，从而产生更复杂的温度分布，如果温度分布和金属变化有关，则会出现热电动势电压。
因此我们常常把样品放在高电压、大电流、高湿度、高温、较大气压等条件下进行测试，然后根据样品的失效机理和模型来推算产品在正常条件下的寿命。可靠性是对产品耐久力的测量，我们主要典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线来表示。冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，在有些情况下也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障。
